二類材質電容 （如X5R/X7R/Y5V/Z5U 類型產品） 存在老化現象，這個在EIA 標準中有做
說明。為了驗證老化現象， 我們有取以上樣品在居里溫度150℃烘烤1 小時後， 完成去老化動作。待保留的去 老化樣品在室溫下存放24 小時後，測試電容的容值。 所有的容值均恢復到規格以內。
去老化条件：取样在高温150°C下烘烤1小时，然后将去老化样品在室温下存放24小时。

二類材質電容存在老化 ，它一種自然且不可避免的現象， 這個在 EIA 標準中有做說明。這種被稱為 老化的現象是可逆的 ，其產生的原因在鉄電体晶體結構隨溫度和時間爾變化。
鉄電介質以鈦酸鋇（BaTiO3 ）為主要成分，加入一定的氧化物以改變材料晶體慣態和對稱性 ，產生鉄電疇。在居里溫度（ 120℃） 附近，BaTiO3 晶 體結構 由四方相轉變為立方相 ，自發極化不再發 生。 當加熱電介質到居里溫度（ 120℃） 附近或以上 ，電介質晶體結構將轉變為立方相 。這意味著電 容的容值將會回覆為原始數值。這種現象就是去老化。
EIA -198-2-E 標準定義的去老化方法如下：